产品中心PRODUCTS CENTER
技术文章您现在的位置:首页 > 技术文章 > 有些因素会影响涂层测厚仪的测量结果

有些因素会影响涂层测厚仪的测量结果

更新时间:2023-10-27   点击次数:576次
涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
部分影响因素:
1.基体金属电性质:基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
2.基体金属磁性质:磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
3.曲率:试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
4.磁场:周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。
5.试件的变形:测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。
6.基体金属厚度:每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。